日本科学和分析仪器生产商 Horiba 的一份新报告探讨了使用尖端增强拉曼光谱 (TERS) 对石墨烯进行表征的问题，并重点介绍了对这种革命性二维材料进行纳米级分析的最新进展。
尽管石墨烯具有卓越的导电性，但其集成方面的挑战减缓了某些应用的进展。不过，随着半导体二维材料的发展及其与石墨烯的潜在结合，研究人员现在正在重新审视石墨烯在下一代纳米电子学中的作用。此外，氧化石墨烯最初被认为是大规模生产石墨烯的中间体，但因其功能化和用作非导电层的多功能性而备受关注。
长期以来，拉曼光谱一直是表征石墨烯、氧化石墨烯和其他碳相的首选方法，因为它具有非破坏性，能够深入了解缺陷、无序、边缘结构、晶界、掺杂、应变和热导率。然而，传统的衍射极限拉曼显微镜缺乏研究纳米级石墨烯结构所需的超高空间分辨率。
TERS 是一种将原子力显微镜 (AFM) 或扫描隧道显微镜 (STM) 与拉曼光谱相结合的先进技术，它通过放大探针尖端下纳米级区域的信号，克服了这一限制。这使研究人员能够以前所未有的细节分析石墨烯基纳米物体。侧发光 TERS 分析等最新进展进一步增强了研究石墨烯在功能电子器件实际操作条件下的行为的能力。
报告强调了 TERS 在石墨烯研究领域日益增长的重要性及其推动纳米电子学和材料科学取得新突破的潜力。随着人们对二维材料的兴趣不断增加，TERS 将成为表征和优化石墨烯技术的重要工具。